海納光學——專業光電代理商,衍射光學元件,微透鏡,離軸抛物面鏡,激光防護眼鏡,太赫茲元件,太陽能模拟器
English購物車網站地圖
服務熱線:0755-84870203
中文English
服務熱線:0755-84870203

産品中心

衍射光學元件(DOE)

光束整形器螺旋相位片分束鏡

多焦點DOE長焦深DOE勻化鏡

線激光準直輸出模組

光束整形器DOE>
光束整形器 準直平頂光模組 勻光片 勻化鏡 M型光束整形鏡 帶聚焦的光束整形器 定制光束整形器 光束整形專用聚焦鏡
光束整形模組>
πShaper光纖激光整形器,光纖激光整平頂激光 πShaper準直光束整形器,準直平頂光整形器 foxxus多焦點玻璃切割模組 Adloptica光束整形器,平頂光整形器 光束整形器專用鏡架,平頂光安裝對準器 可監控激光加工溫度的紅外聚焦鏡,激光保護鏡片(激光窗口片) Quattroxx激光分束器,分束模塊
焦點控制DOE>
多焦點DOE 長焦深DOE 玻璃切割模組 DeepCleave激光成絲切割模組,用于玻璃切割的DeepCleave激光成絲模組
分束鏡>
分束器 激光采樣器 定制激光分束器 國産分束器
螺旋相位闆>
螺旋相位闆 渦旋相位片 連續面形螺旋相位片,渦旋相位闆 RPC螺旋相位闆,多合一螺旋相位片
其它DOE>
衍射軸錐鏡 軸棱鏡DOE 艾裡光束DOE 三光點DOE 激光模式轉換器 多圓環發生器 雙波長聚焦鏡 三波長聚焦鏡 衍射光學元件
DOE模組>
線激光準直輸出模組
DOE配件>
高衍射級次阻擋模組 DOE光束縮放器 DOE專用掩膜 DOE專用擴束器 DOE轉接件
随機點陣DOE>
随機點陣DOE 散斑DOE 随機點陣激光模組
結構光DOE>
多線結構光DOE 網格結構光DOE 一維點陣DOE 直線DOE 二維點陣結構光DOE 十字線結構光DOE 圓環DOE 圓形點陣DOE 特殊圖案結構光DOE 結構光鏡片(玻璃),衍射勻化片
結構光模組>
結構光模組,結構光DOE模組 20um線激光模組,一字線激光模組
    
微透鏡

微透鏡陣列标準品 工程散射片

激光器及附件

皮秒半導體激光器 普克爾斯盒

激光分析診斷設備

光斑分析儀 位敏探測器 自準直儀

光束質量分析儀(M2) 激光波長計

太赫茲系統,THz源,相機

THz源 THz相機太赫茲探測器

THz人體安檢儀 THz時域光譜系統

太赫茲元件

有機晶體 THz衰減器

離軸抛物面鏡THz偏振片

THz透鏡THz波片 

光學儀器

AAA級太陽能模拟器光學斬波器

光學鏡片及晶體

Chroma濾光片消色差波片

UPD超快光電探測器二氧化碳激光鏡片

光學配件

激光防護眼鏡激光護目鏡 

平移台及顯微鏡載物台

PRIOR顯微鏡載物台自動上片機

Zaber電控平移台MinusK隔振台

浏覽記錄

顯示更多  up

LAM-BA激光增材專用光束質量分析儀

LAM-BA激光增材專用光束質量分析儀

新興的激光金屬三維打印技術或稱為LAM(激光三維打印,激光增材制造)被公認為金屬零件制造的革命性創新工藝。激光對于這種新工藝發揮了重要作用,LAM-BA激光增材專用光束質量分析儀能夠精确測量激光與粉末材料作用的微小區域的光斑能量分布和光束質量,是分析激光增材加工微觀過程和加工效果的有力工具。DUMA提供的LAM-BA 3D打印M2儀,也稱為LAM激光輪廓儀,能測量350~1100nm的激光,光束直徑覆蓋35um~8mm,最大可承受功率4kW,是一個非常好用的激光增材測量儀器。

所屬品牌:

應用類型:

産品型号:

負責人:林工
聯系電話:1369192671 電子郵箱:linzehao@welloptics.cn

規格書下載 添加到詢價單

 

350~1100nm,光束直徑35um~8mm,最大功率4kW,LAM-BA光束質量分析儀

 

最近,一種新興的金屬三維打印技術或稱為 LAM (激光三維打印,激光增材制造)被公認為金屬零件制造的革命性創新工藝。對于這種應用,激光器發揮了重要作用,因為它們可以将大量的能量集中在各種材料粉末上,将粒子融入三維部件。激光增材過程基于逐層累積結構,其中每一層被選擇性地彼此頂部熔合,直到所述部件成為成品。

激光增材設備(LAM)最核心的參數就是加工區域的激光光束質量(M2),也就是激光與材料粉末相互作用的微小區域内的激光輪廓。如今,大多數激光增材三維打印設備的激光器是基于光纖光學高功率技術與光學掃描頭的結合,工程師們最需要測量的就是工作面上激光加工位置的光束質量和M2數值,具體包含光斑大小,能量分布,發散角,功率等。LAM-BA激光增材專用光束質量分析儀就能夠精确測量出這些參數,使用簡便,能直接測量大功率聚焦光斑,穩定可靠,其也被成為LAM激光輪廓儀或3D打印M2儀。

以色列DUMA公司最新開發的LAM-BA激光增材專用光束質量分析儀,能夠監控工作面加工位置的光束質量的變化,加工位置的激光光束質量的穩定性也是衡量工藝重複性和穩定性最關鍵的參數,因此工程師可以根據實時測量結果優化工藝參數,評估激光器的好壞,分析加工缺陷原因。LAM-BA激光輪廓儀,能測量波長350~1100nm的激光,光束直徑覆蓋35um~8mm,最大可承受功率4kW,是一個非常好用的激光增材測量儀器。






LAM-BA激光輪廓儀産品規格:

傳感器類型

矽(Si - 刀口技術(Knife-edge technology

光譜範圍

Si350-1100nm。 聯系工廠了解其他波長

刀片數量

7個刀片,圖像層析成像重建

光束尺寸範圍

35微米至8毫米

光束寬度分辨率

For beams > 100 μm in size: 1 μm. For beams <100 μm in size: 0.1 μm

光束寬度精度

±2%

功率範圍

高達4 kW(帶過濾器和加壓空氣冷卻,可能會有一些限制)

功率準确度

±5%

位置準确性

±15 μm

位置解析

1 μm

測量率

5 Hz

重量

傳感器頭帶電纜~1500克。

PC接口

USB 2.0PCI可選)

可選配件:

ND光學濾光片

 

激光增材專用光束質量分析儀測量的參數

影響激光增材機器性能的最重要參數是:焦點光斑的寬度和位置,焦點偏移,質心位置,絕對功率和激光動态的實時測量。Duma提供的LAM-BA激光增材專用光束質量分析儀,可以使用刀口和相機系統技術實時執行這些測量。 此外,為了确保精确測量,儀器具有特殊的光束路徑設計,該設計根據其熔合表面處的光束位置進行校準。為了使系統适應狹小的空間,系統尺寸最小,并且可以作為LAM激光增材設備的一部分集成。

LAM-BA激光增材專用光束質量分析儀的設計确保了其能夠精确定位到參考孔(激光與材料粉末作用的位置),打在輸入孔上的激光光束将精确地聚焦在儀器所在的表面上。激光束在三軸-XY Z軸上的位置将實時顯示相對于參考孔的位置。為了完成所需的測量參數,LAM激光輪廓儀将在同一位置測量束剖面圖,以産生一個實時的全面測試診斷。

2顯示了專注于頂部平面的聚焦光束。為了保證激光光束性能的質量,我們将測量激光光束的特性如下: 功率、位置和輪廓(M平方,光束質量)。為此,儀器将準确定位在感興趣的位置 - 儀器底部的參考孔便于操作,該參考孔準确地代表儀器的測量點。

3顯示了安裝在參考孔上的LAM-BA激光輪廓儀,儀器會執行必要的測量。光線軌迹設計使得入射光束被采樣,其位置正好在工作面的入射點處。

 

掃描刀口技術

DUMA公司的LAM-BA激光增材專用光束質量分析儀采用刀口法進行測量,可以測量幾微米到十幾毫米的光束直徑。刀口剖面的孔徑足夠大,可以通過整個橫梁。孔徑有一個鋒利的直邊(刀刃)。 當光圈穿過光束時,系統測量光束中沒有被刀片擋住的部分(見圖4) ,并繪制差别(強度變化率)和光圈的功率位置。 當刀刃穿過光束時,系統大約計算每次掃描1.2萬次光束的光束大小和一個複雜的電子電路樣本,并進一步處理,使每個光束剖面産生超過1000個有用點,而不管光束大小。即使對非常小的微米級光束也能以較低的分辨率取樣。這種自動縮放程序提供了獨立于光束尺寸的最高精度。與狹縫或針孔掃描相比,這是有利的: 光束強度不受限于針孔或狹縫的大小; 分辨率不受孔徑大小的限制,允許測量幾微米直徑的光束。此外,DUMALAM系列3D打印M2儀還提供了精确的功率測量,一種特殊的針形量規将以每秒五次的實時速度顯示功率(參見圖5)

刀口掃描技術的優點是其寬動态範圍的光束從小于3微米到15毫米。利用特殊的敏感探測器,它可以測量2.8微米波長的光束。 DUMA公司發明了從不同導向的多個掃描刀的邊緣産生的輪廓,重建為圖像使用層析技術,還申請了專門的國際專利保護。

 

光束采樣技術

Duma Optronics的大功率激光器光束采樣器是從大功率系統在線采集光束的 LAM激光增材專用光束質量分析儀的重要組成部分。采樣光束檢測使用刀口技術,産生一個高度準确的測量結果。目前,LAM-BA最大測量功率能夠達到8千瓦。LAM-BA激光增材專用光束質量分析儀還進行了精巧的冷卻設計,一個加壓的空氣或氮管被連接到一個噴嘴上,主動冷卻激光束通過的第一個表面。DUMA的光束采樣器是一種全保真的、保持光束偏振的采樣器。 壓縮空氣被用來冷卻系統,同時防止透鏡受熱,使光學不受塵埃和粒子的影響。該系統能夠以每秒五個讀數的速度測量功率和光束大小,比通過測量激光束引起的水溫差來工作的水冷功率表快很多。該測量系統可用于深紫外線或高達2.7微米的功率系統的微小變化。

 

最後總結一下LAM-BA激光輪廓儀,M2儀的優點:

-行業領先的刀口法測量技術,獨特的斷層圖像重建算法

-配合高功率采樣器,最大測量功率4kW,隻需空氣冷卻

-高速實時測量,15次(可進行用戶校準)

-準确測量激光M2,光斑能量分布,輪廓,位置和功率

-光束直徑範圍廣,小于35微米到8毫米

-非常緊湊,專為滿足LAM行業的需求而設計

    

 

文獻資料

詢問表格

帶*号為必填!
*聯系人:
*電子郵箱:
*公司名稱:
*聯系電話:
留言内容:
*驗證碼:
驗證碼

相關應用

産品導航 : 光束整形器分束器多焦點DOE螺旋相位片多合一螺旋相位片随機點陣DOE20um線激光模組 微透鏡陣列工程散射片皮秒半導體激光器光斑分析儀位敏探測器自準直儀光束質量分析儀激光波長計太赫茲源太赫茲相機離軸抛物面鏡太赫茲波片太赫茲偏振片太赫茲衰減片太赫茲透鏡Chroma濾光片消色差波片激光防護眼鏡Zaber電控平移台UPD超快光電探測器太陽能模拟器

友情鍊接 : 維爾克斯光電 新浪博客 阿裡巴巴旺鋪 網易博客 維爾克斯光電博客 海納光學博客博客 環保在線 八方資源 谷瀑環保 中國制造網 蓋德化工廠 黃頁88 中科商務網 中國供應商 來寶網

版權所有:深圳海納光學有限公司 地址:深圳市龍崗區平湖街道華南城一号交易廣場五樓C
電話:0755-84870203 郵箱:sales@dnsn27j.top

http://rbxz.dnsn27j.top| http://ykf5.dnsn27j.top| http://jz73.dnsn27j.top| http://b5ow.dnsn27j.top| http://vx997c.dnsn27j.top|